注意：此页面搜索的是所有试题
题目内容
（西安理工大学-测试技术基础）
测量小应变时，应选用灵敏度高的金属丝应变片；测量大应变时，应选用灵敏度低的半导体应变片。
(A) 对
(B) 错
(A) 对
(B) 错
参考答案
