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题目内容
（河南理工大学现代设计理论与方法）
[单选题,5分]
在电子产品的失效率曲线上，由于设计、制造、储存、运输等过程形成的缺陷造成的失效属于（ ）。
A.早期失效期
B.偶然失效期
C.耗损失效期
D.不能确定
在电子产品的失效率曲线上，由于设计、制造、储存、运输等过程形成的缺陷造成的失效属于（ ）。
A.早期失效期
B.偶然失效期
C.耗损失效期
D.不能确定
参考答案
